光电芯片测试解决方案

VAX系列矢量网络分析仪业界领先的高频测试性能，光波元件分析仪具备丰富的光源选项和极致性，激光强度相对噪声测试仪具备极低的RIN可测值，助力光电芯片测试更精准、更高效。

趋势与挑战

光电芯片/器件测试涉及电电、光电、电光、光光等多种类型，随着光电芯片/器件测试带宽逼近100GHz@200Gbs/lane，高频超宽带调制下的光电频响测试对仪器的稳定性和测试精度提出更严苛要求，指标波动大、测不准成为当前面临的主要挑战。另外，光波波长需覆盖O波段、C波段、L波段等多种波长光源，测试仪器配置复杂。

万里眼高性能矢量网络分析仪和信号与频谱分析仪，搭配不同光座，支持AI高速光电互连场景下电芯片、光电芯片 S 参数以及激光器 RIN 噪声、频率噪声的精准、高效测量

趋势与挑战

TIA/Driver测试解决方案

万里眼矢量网络分析仪可用于光模块TIA/Driver测试解决方案，具备如下特点：
• 高动态：120dB @67 GHz高系统动态范围
• 高精度：自研去嵌算法降低测量不确定度
• 高稳定性：温度系数<0.05dB/°C @67G
• 高测试效率：超高速DDS扫频源+灵活的扫频控制算法，实现高速扫描：22mS@201点，10kHz IFBW

光电/电光/光光芯片解决方案

万里眼光波元件分析仪光电测试方案以“丰富光源选项 + 极致测试性能”为核心价值，面向光电芯片及光电/电光/光光器件提供高效、精准的一体化测试平台：
• 丰富光源：内置双光源并支持外置光源输入，波长覆盖C/L波段可调谐、O波段，外置光源支持多模850 nm等
• 微波域高系统动态范围：基于大功率、低底噪矢量网络分析仪，矢量网络分析仪系统动态范围达120 dB@67 GHz
• 优秀的频响测试精度：通过电+光联合校准与光+电系统联动优化，频响测试精度领先，相位不确定度±2°@67 GHz，相对/绝对频率响应不确定度分别为±1.5 dB/±1.5 dB，频率响应可重复性±0.25 dB

激光器RIN/FN噪声测试解决方案

RINA用于激光器RIN噪声测试，FNA用于激光器频率噪声测试，RINA和FNA由万里眼信号与频谱分析仪和RINA/FNA光座组成，具备业界领先的噪声测试性能。
• 频谱与信号分析仪：110GHz直出，最大8.4GHz分析带宽，最大支持2GHz实时分析带宽，-169dBm/Hz@1GHz 极低DANL
• RINA光座：RIN最小可测值-170dB/Hz
• FNA光座：最大支持500MHz频率噪声分析带宽